Servicio de microscopia electrónica
Descripción de los servicios que se ofrecen
Análisis de estructuras micrométricas y nanométricas en muestras de varios tamaños. Se pueden analizar muestras conductoras y aislantes. Para muestras aislantes se puede solicitar adicionalmente su recubrimiento metálico. El servicio se podría usar individualmente previo entrenamiento con el equipo.
Necesidades demandadas y aplicaciones
Análisis de estructuras nano- y micrométricas tanto conductoras como aislantes.
Sector o área de aplicación
Nanotecnología, Microtecnología.
Descripción del equipamiento
CEMDATIC, ETSI de Telecomunicación
Para dar este servico se emplea un microscopio electrónico de barrido de sobremesa Zeiss EVO que permite:
deteccón de electrones retrodispersados y secundarios; voltaje de aceleración desde 0.02kV hasta 30kV variable de forma continua en pasos de 10V; distancia analítica de trabajo de 8.5mm; corrientes desde 0.5pA hasta 5 uA; base motorizada en 5 ejes: X, Y, Z, tilt hasta 90° y rotación en 360°; cámara de muestras de 310mm de diámetro interno y 220mm de altura; escanear imágenes de hasta 32k x 24k píxel.
Solicitud del servicio
Solicitar servicio mediante correo electrónico a "> indicando fechas preferentes y experiencia en el uso de microscopios electrónicos de barrido.
