Descripción de la patente
La presente invención se refiere a un dispositivo para medir el espesor de acristalamiento que permite medir el espesor de acristalamientos instalados en carpinterías, independientemente de las capas que dicho acristalamiento comprenda, y sin necesidad de que el acristalamiento tenga que ser desmontado para realizar la medición de su espesor.Es decir, la invención puede ser utilizada tanto en el caso de vidrios simples como en el caso de vidrios compuestos, permitiendo medir incluso el espesor de las cámaras de aislamiento intermedias, formadas con aire o líquido. La invención tiene aplicación en la industria de la edificación, y más concretamente en el ámbito de la peritación de acristalamientos en edificios.
Situación
Concedida
Número de solicitud
P201531670
Número de publicación
ES2561903A1
Fecha de presentación
19/11/2015
Fecha de concesión
11/08/2016
