Ficha
Microscopio SEM Hitachi S-3000 N
Dónde:
Centro Láser
Ubicación:
90A.00.094.1
Tipología:
Equipamiento científico-Tecnológico
Responsable: David Muñoz
Correo electrónico:
Microscopia Electrónica de Barrido (FE-SEM)
Caracterización
Proporciona información microestructural, morfológica y de composición química a escala microscópica. Cuenta con un módulo de espectrometría por dispersión de energías de rayos X (EDS).- Módulo de electrones secundarios- Módulo de espectroscopia de dispersión de rayos X
Caracterización superficial
