Ficha
Espectrofotómetro, (Nicolet 5PC - FT-IR)
Dónde:
Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones (CEMDATIC)
Ubicación:
ETSI de Telecomunicación, B09
Tipología:
Equipamiento científico-Tecnológico
Responsable: Ricardo Hervás García
Correo electrónico:
Espectrofotómetro FT-IR
Microtecnología, Nanotecnología, Microelectrónica, Fotónica
Técnica de caracterización estructural de materiales no destructiva basada en el estudio de la intensidad y localización de los distintos modos de vibración asociados a los enlaces y activados mediante la absorción de radiación infrarroja.
Técnica usada de forma rutinaria para caracterizar la estructura cristalina de las capa de AlN y AlScN piezoeléctricas así como capas aislantes de SiO2 y Si3N4.
Tecnologías de micro y nano fabricación basadas en materiales semiconductores
Tecnologías de sensores químicos y biológicos
Tecnologías de componentes para comunicaciones de RF (5G)