Memorias de investigación
Artículos en revistas:
A comprehensive diagram to grow metal-polarity InGaN alloys by molecular beam epitaxy
Año:2012

Áreas de investigación
  • Industria electrónica

Datos
Descripción
The composition,strainandsurfacemorphologyof(0001)InGaNlayersareinvestigatedasafunctionof growth temperature(460?645 1C) andimpingingInflux.Threedifferentgrowthregimes:nitrogen-rich, metal-richandintermediatemetal-rich,areclearlyidentifiedandfoundtobeincorrelationwith surface morphologyandstrainrelaxation.
Internacional
Si
JCR del ISI
No
Título de la revista
Applied physics letters
ISSN
0003-6951
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
Desde la página
123
Hasta la página
127
Mes
SIN MES
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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica